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  • ISEL-WOQ光學測量/抄數系統
    ISEL-WOQ光學測量/抄數系統

    ISEL-WOQ光(guang)學測量/抄(chao)數系統

    更新時間:2023-10-13型號:WOQ系統
  • 超長工作距離變倍光學顯微鏡日本UNION深穴
    超長工作距離變倍光學顯微鏡日本UNION深穴

    UWZ超(chao)長工作距離變(bian)倍光學(xue)顯(xian)微鏡日(ri)(ri)本UNION深穴(xue) 超(chao)長工作距離變(bian)倍光學(xue)顯(xian)微鏡日(ri)(ri)本UNION深穴(xue)觀察(cha) 型號:UWZ 品牌:日(ri)(ri)本UNION 深穴(xue)加工觀察(cha)、遠距離在線(xian)觀察(cha)、實驗箱觀察(cha)

    更新時間:2023-10-15型號:UWZ
  • 日本UNION高倍率變倍光學顯微鏡高分辨率
    日本UNION高倍率變倍光學顯微鏡高分辨率

    DZ4-E/ DZ4-T日本UNION高倍率(lv)變(bian)倍光學顯(xian)微鏡高分辨率(lv) 日本UNION高倍率(lv)變(bian)倍光學顯(xian)微鏡長工(gong)作距(ju)離 型(xing)號:DZ4-E/ DZ4-T 品牌(pai):日本UNION 適合安裝在(zai)高光學分辨率(lv)要求的設備

    更新時間:2023-10-15型號:DZ4
  • 日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝
    日本Union紅外觀察測量顯微鏡半導體封裝

    DZ2-IR日(ri)本Union紅(hong)外觀察(cha)測(ce)(ce)量(liang)顯微鏡(jing)半導體封裝(zhuang) 主題:日(ri)本Union紅(hong)外觀察(cha)測(ce)(ce)量(liang)顯微鏡(jing) 型號(hao):DZ2-IR 品(pin)牌:日(ri)本UNION 應用(yong)于半導體各種(zhong)封裝(zhuang)內(nei)部結構的測(ce)(ce)量(liang)

    更新時間:2023-10-15型號:DZ2-IR
  • 日本Union上下兩面觀察測量顯微鏡
    日本Union上下兩面觀察測量顯微鏡

    DCM-40/60 日本Union上下兩面觀察測(ce)量(liang)顯微(wei)鏡 主題(ti):日本Union兩面觀察測(ce)量(liang)顯微(wei)鏡 型號:DCM-40/60 品牌:日本UNION

    更新時間:2023-10-15型號:DCM-40/60
  • 日本Union精密厚度測量顯微鏡蓋子凹槽厚度
    日本Union精密厚度測量顯微鏡蓋子凹槽厚度

    主題:日本Union精密厚度測(ce)量(liang)顯微(wei)鏡(jing)THS 型號:THS 品牌:日本UNION

    更新時間:2023-10-15型號:THS-10
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